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光学薄膜应力双折射测量仪
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更新 2025-08-08 19:12
 
详细信息

宽量程的双折射测量系统 WPA-200, WPA-200-L

产品简介
WPA-200系列是Photonic lattic公司以其领先世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。
该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器,最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
特点
u 操作简单,测量速度可以快到3秒,
u 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。
u 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。
u 具有多种分析功能和测量结果的比较。
u 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

主要应用
· 光学零件(镜片、薄膜、导光板)
· 透明成型品(车载透明零件、食用品容器)
· 透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL)
· 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)
· 有机材料(球晶、FishEve)
参数指标
型号 WPA-200 WPA-200-L
测量范围 0~30OOnm
重复性 <1.0nm
像素数 384×288(≒11万)pixels
测量波长 523nm,543nm,575nm
尺寸 270×340×560 mm 430×490×910 mm
观测到的最大面积 24×32 mm ~ 100×133mm 33×44 mm ~ 240×320mm
重量 13kg 23kg
数据接口 GigE(摄像机信号) RS232C(电机控制)
电压电流 AC100-240V(50/60Hz)
软件 WPA-View