北京燕京电子有限公司联合瑞士 Zurich Instrument ，法国Fluigent ,荷兰Micronit共同推出用于微流体电阻抗测试分析系统EISP。该系统可广泛应用于流过微流体芯片微通道的细胞，单分子，标准粒子，化学介质等动态阻抗的监测和采集。EISP测试系统以其先进的设计理念，高度的灵敏性为微流体芯片分析提供了可靠的电性能测试分析方法。

原理：

利用HF2IS的高速采样能力，检测粒子通过芯片电极时的瞬时数值变化，通过数值变化来分辨有没有粒子通过。利用两对电极做差分的方法观察实验现象，当粒子通过第一对电极的时候阻抗值会有一个明显变化，当流到第二对电极会有一个对称的反方向变化。通过变化趋势来确定粒子有没有流过。

实验结果：

测量1μm的标准粒子,用两路频率1MHz和100kHz，1V的信号作为激励信号，当1μm粒子通过的时候，检测出现明显的实验现象，和预想的实验结论相吻合。如图所示：

通过不同的频率对比进行测试，可以很直观的看出在哪个频率段的变化比较明显.

EISP系统可以很好满足客户的动态阻抗测试要求

EISP系统可广泛应用于测量通过芯片电极处的细胞，单分子，标准粒子，化学介质等动态阻抗的监测和采集。