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技术指标：
| 型号： | EDX 1800 B X荧光光谱仪 |
| 测试对象： | 粉末、固体、液体 |
| 元素分析范围： | 硫（S）－铀（U） |
| 同时最多可测元素： | 75种 |
| 含量分析范围： | 1ppm～99.99% |
| 工作稳定性： | 总荧光强度为0.1％ |
| 测试时间： | 60～200秒 |
| 检测器分辨率： | 160±5eV |
| 多道分析器： | 2048道 |
| X射线光管： | 功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo |
| 高压电源： | 电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05% |
| 外型尺寸： | 550mm*416mm*333mm |
| 测量仓： | 460mm*298mm*98mm |
| 重量： | 45Kg |
| 检出限： | Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm |
| 镀层技术参数： | |
| 可测镀层数： | 最多可达5层 |
| 镀层种类： | 单金属镀层、合金镀层 |
| 镀层识别精度： | 分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm。 |
| 厚度测试范围： | 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um |
| 计数率： | 1300-8000cps |
