显微型纳米级大范围双折射测量仪相位差差测量仪系统

显微镜型双折射测试系统WPA-micro
产品简介
WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其领先世界的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。显微镜版的入门级产品，
高相位差样品的显微镜视野测量，针对钢化玻璃和光学薄膜剖面评估，亦可用于测量球晶、金属晶体等。
特点
u 操作简单，测量速度可以快到3秒，
u 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
u 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
u 具有多种分析功能和测量结果的比较。
u 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

主要应用
· 钢化玻璃和光学薄膜。
· 球晶、金属晶体等。
· 高分子结晶。

参数指标

型号	WPA-micro
测量范围	0~ 3OO0nm
重复性	<1.0nm
像素数	384×288（≒100万）pixels
测量波长	523nm,543nm，575nm
尺寸	250×487×690mm
观测到的最大面积	镜头：5倍：约1.1×0.8 mm 10倍：0.5×0.4mm 20倍：约270×200μm 50倍：約110×80μm 100倍：約 55× 40μm
重量	约11kg
数据接口	GigE（摄像机信号） RS-232(控制马达)
电压电流	AC100-240V（50/60Hz）
软件	WPA-View（for WPA-micro）