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G10-FR是在E25经典机型基础上，通过融合一系列 AI 工具研发的一款全新的自发光半导体测序仪。与G10-FR 测序试剂套装搭配使用，最快可在2小时内完成SE50测序，满足于更多应用对于TAT*的极限诉求。
性能参数
读长 | SE50*** | SE75*** | SE100 |
单次运行最大载片数 | 1 | 1 | 1 |
最大reads数/载片* | 20 M~25 M | 20 M~25 M | 20 M~25 M |
数据量 | 1 Gb~1.25 Gb | 1.5 Gb~1.875 Gb | 2 Gb~2.5 Gb |
| 数据质量Q30** | >90% | >90% | >90% |
| 测序时间（DNB-FQ） | 2小时 | 3小时 | 3.3小时 |
| * 有效 reads 数值根据特定标准文库运行所得，实际应用文库受样本类型、建库方式会有所波动。 ** 高于Q30的碱基百分比及运行时间是特定标准文库通过整个运行平均所得。实际应用表现受样本类型、文库质量、插入片段长度等因素影响。 *** 可使用SE100耗材进行SE50/SE75测序，可在测序仪用户界面定制读长。 | |||
系统参数
| 主机配置 | |
|---|---|
| 显示屏 | LCD 触摸显示屏，12.1 英寸，分辨率 1,280×800 |
| 最大声压 | 65 dBA |
| 外壳防护等级 | IPX0 |
| 电源 | 24V DC，5A |
| 尺寸&净重 | 348 mm × 312 mm × 257 mm（长×宽×高），~15 kg |
| 计算模块配置 | |
| GPU | 2048 CUDA 核心，64 Tensor 核心 |
| CPU | Arm Cortex-A78AE（12 核） |
| 内存 | 64G 统一内存 |
| 硬盘 | 64G eMMC + 4T 固态硬盘 |
| 电源 | 20V DC，3 A |
| 尺寸&净重 | 110 mm × 110 mm × 71.65 mm（长×宽×高），2.19 kg |
| 操作环境 | |
| 温度 | 15 ℃~30 ℃ |
| 湿度 | 20% RH~80% RH，无冷凝 |
| 气压范围 | 70 kPa~106 kPa |
| 存储/运输环境 | |
| 温度 | -20 °C ~ 50 °C |
| 湿度 | 15% RH ~85% RH，无冷凝 |
