KORE飞行时间二次离子质谱仪

Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS （飞行时间二次离子质谱仪） 系 列中，是一款高性价比且经久耐用 的产品。它是研究样品表面化学成 分的理想选择，适用于研发和工业 质量控制应用。

TOF（Time of Flight）的独特之处在于其离子飞行时间只依赖于他们的质量。由于其一次脉冲就可得到一个全谱，离子利用率最高，能最好地实现对样品几乎无损的静态分析，而其更重要的特点是只要降低脉冲的重复频率就可扩展质量范围，从原理上不受限制。

Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。

SurfaceSeer S 仪器特点：

• 配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；

• 针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；

• 均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；

• 可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；

• 质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM)；

• 适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。

SurfaceSeer S 应用领域:

• 表面化学
• 黏附力
• 分层
• 印刷适性
• 表面改性
• 等离子体处理
• 痕量分析（表面ppm）
• 催化剂
• 同位素分析
• 表面污染